反射率檢測(cè)儀TSS-5X-3的運(yùn)用分析

發(fā)布日期：2024-09-10      瀏覽次數(shù)：835

反射率檢測(cè)儀TSS-5X-3的運(yùn)用分析

透射/反射光譜是材料本身的一項(xiàng)重要光學(xué)特性，在現(xiàn)今工業(yè)蓬勃發(fā)展的背景下，對(duì)材料本身特性的質(zhì)量控制越來越嚴(yán)格，從而利用光譜儀進(jìn)行快速準(zhǔn)確的反射光譜/透射光譜的測(cè)量技術(shù)也開始日漸成熟。

透射/反射光譜儀系統(tǒng)具有測(cè)量快速，準(zhǔn)確，方便集成等優(yōu)點(diǎn)，目前已經(jīng)廣泛應(yīng)用到實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)、產(chǎn)品在線測(cè)試等應(yīng)用。目前的主要應(yīng)用在：

高分子材料反射/透射測(cè)試

建筑玻璃 反射/透射測(cè)試

在線 反射/透射測(cè)試

光伏壓花玻璃 透射測(cè)試

干涉濾光片 透射測(cè)試

薄膜樣品 反射/透射測(cè)試

各種晶體、塑料、紡織品等反射測(cè)試

平板、LCD、背光板、手機(jī)/平板油墨孔等透射測(cè)量

光譜反射測(cè)量的基本原理是利用光纖將光源輸送到物體的表面，再將材料的光譜反射數(shù)據(jù)傳到光纖光譜儀上，由軟件將其顯示，并對(duì)其進(jìn)行分析，從而可以對(duì)待測(cè)樣品進(jìn)行鑒定。在測(cè)量時(shí)，將一面與基準(zhǔn)光路呈一定角度的標(biāo)準(zhǔn)反射器置于測(cè)量光路上，并以其反射光譜為參照。當(dāng)暗光譜和參考光譜都收集完畢后，可以將被測(cè)量的樣品替換為標(biāo)準(zhǔn)的反射板，進(jìn)行后續(xù)實(shí)驗(yàn)的測(cè)試。

使用發(fā)射率計(jì)TSS-5X-3，您可以輕松測(cè)量樣品在室溫下的發(fā)射率。發(fā)射率值以數(shù)字方式顯示，方便查看，操作簡(jiǎn)單。

量化材料表面處理的細(xì)微差別

TSS-5X-3 可讓您輕松測(cè)量室溫下的發(fā)射率。
樣品的發(fā)射率以數(shù)字方式顯示，方便查看，操作方便。


它被應(yīng)用于從研發(fā)到大規(guī)模生產(chǎn)線的廣泛領(lǐng)域，包括空間、半導(dǎo)體和核電。






產(chǎn)品特點(diǎn)

• 量化材料表面處理的細(xì)微差別

  通過了解發(fā)射率，您可以提高加熱設(shè)備的輻射效率，設(shè)計(jì)強(qiáng)調(diào)散熱和隔熱的材料，還可以用于節(jié)省能源。

  TSS-5X-3使用兩種類型的參考件（發(fā)射率0.06和0.97），其參考發(fā)射率是預(yù)先已知的，并且可以在室溫下輕松測(cè)量，無需加熱樣品。

  它被應(yīng)用于從研發(fā)到大規(guī)模生產(chǎn)線的廣泛領(lǐng)域，包括空間、半導(dǎo)體和核電。

   

• 測(cè)量原理

  

  紅外線被樣品反射，一部分紅外線通過半球形黑體爐頂部的小孔進(jìn)入。
  檢測(cè)元件以恒定速率檢測(cè)該能量。

規(guī)格/光路圖

模型	TSS-5X-3
測(cè)量方法	使用紅外檢測(cè)的反射能量測(cè)量方法
測(cè)量波長(zhǎng)	2～22μm
測(cè)量范圍	發(fā)射率：0.00~1.00
準(zhǔn)確度等級(jí)	滿量程的 ±1%
測(cè)量面積	Φ15mm
測(cè)量距離	12mm（檢測(cè)頭柱固定）
樣品溫度	10-40℃（室溫）
測(cè)量值顯示	LED數(shù)字顯示（顯示至小數(shù)點(diǎn)后第二位）
輸出	0-0.1V、0-1V、滿量程
工作溫度/濕度范圍	10~45℃/35~85℃（無凝結(jié)）
電源/電力	AC100-240V，50/60Hz，30W *不含電源線。請(qǐng)選擇適合您所在位置的電源線。
尺寸/質(zhì)量	檢測(cè)頭：Φ51 x 137Lmm、0.6kg（含3000Lmm機(jī)器人電纜） 測(cè)量單元：156H x 306W x 230Dmm（不含橡膠腳柄等）、5.0kg
配件	發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)件存放盒：84H x 238W x 185Dmm，1.1kg 發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)件：0.06（鏡面）、0.97（黑體），各存放 1 個(gè)