反射率測量裝置MSP-100在光學薄膜上的運用

發布日期：2024-04-01      瀏覽次數：904

反射率測量裝置MSP-100在光學薄膜上的運用

光學薄膜的光學性質和功能是通過干涉作用改變光在光學元件表面的特性，獲得所需要的反射率或者透過率。

“測試方法"是光學薄膜制備中極為重要的一環，它的評價和反饋機制保證了產品的最終光學性能，其中最為基本和關鍵的是反射率和透過率測試。本期主要為大家介紹光學薄膜的反射率測試。

反射率測量裝置MSP-100

以未有的低成本實現微小區域、曲面和超薄樣品的高速、高精度測量



• 通過使用特殊的半反射鏡，可以切斷背面反射的光，無需背面處理即可在短時間內進行精確測量。
  （可測量 0.2 mm 薄板的反射率：使用 ×20 物鏡時）

• 還可以測量鏡片曲面和涂層不均勻度。（在樣品表面連接微小點（φ50μm））

• 即使是低反射率的樣品也可以在短時間內進行測量，并且具有高重復性。（光學設計捕獲最大量的光，并通過512元件線性PDA、內置16位A/D轉換器和USB 2.0接口實現高速計算實現快速測量。）

• 可以進行色度測量和L*a*b*測量。可以使用光譜比色法根據光譜反射率來測量物體。

• 數據可以以 Microsoft Excel(R) 格式保存。

• 單層薄膜可以非接觸式、非破壞性地測量。

• 具有在同一屏幕上顯示多個測量結果的功能。輕松比較測量結果。

規格

型號	MSP-100
測量波長	380～1050nm
測量重復性	±0.2%(380-450nm) ±0.02%(451-950nm) ±0.2%(951-1050nm)
樣品面 NA	NA 0.12（使用 10 倍物鏡時）
樣品測量范圍	φ50μm（使用10倍物鏡時）
樣品曲率半徑	-1R~-無窮大, +1R~無窮大
顯示分辨率	1納米
測量時間	幾秒到十幾秒（取決于采樣時間）
外形尺寸	(寬)230×(高)560×(深)460mm（僅機身）
工作溫度限制	18～28℃
工作濕度	60%以下（無凝露）